精准介观测量

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丁志华

教授、博导。1989年毕业于浙江大学光学仪器工程学系获学士学位,1996年毕业于中国科学院上海光学精密机械研究所获博士学位。同年开始在浙江大学仪器仪表博士后流动站从事博士后研究工作,1998年前往日本静冈大学Venture Business实验室任非常勤研究员,2000年前往美国加州大学欧文分校Beckman激光研究所从事博士后研究工作。2002年起任浙江大学光电科学与工程学院教授。获得霍英东教育基金会霍英东青年教师基金,入选教育部“新世纪优秀人才支持计划”,入选浙江省151人才工程第一层次培养人员,在国际核心刊物上发表论文一百余篇,获授权中国发明专利30余件。主要研究方向有:

1) 光学相干层析成像:发展了三维高分辨的结构与功能光学成像技术;发展了基于微小光纤探头的内窥光学成像技术;建立了超大量程与超大视场的光学相干层析成像系统,开展了生物组织的在体成像与生理病理的表征。

2) 超高精度光学检测:发展了基于光学干涉技术的表面形貌与缺陷检测技术,应用于工业件表面形貌与表面缺陷的无损检测,以及透明介质与散射介质内部缺陷的无损检测。


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